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  • FR-Mic:全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀

    硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案,要求的光斑尺寸小到幾個微米,如微圖案表面,粗糙表面及許多其他表面。

    更新時間:2024-11-09
    型號:
    廠商性質:代理商
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  • FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀

    FR-InLine 是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀(膜厚儀),可進行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內的涂層。$nFR-InLine 膜厚儀并可以依據(jù)各種不同應用設置多個參數(shù)的實時測量,例如:反射率和透射率光譜、厚度、色座標。$nFR-InLine 膜厚儀測量軟件可以在標準 Windws 10/11 中執(zhí)行。

    更新時間:2025-04-08
    型號:
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:1815
  • FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150-自動化高速薄膜厚度測量儀

    顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件:分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此,在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

    更新時間:2024-11-09
    型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    廠商性質:代理商
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  • FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)

    FR-Ultra是一種緊湊型設備,專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。

    更新時間:2024-11-09
    型號:FR-Ultra
    廠商性質:代理商
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  • FR-ES精簡薄膜厚度測量儀

    FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。

    更新時間:2024-11-09
    型號:FR-ES
    廠商性質:代理商
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  • FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150自動化高速薄膜厚度測量儀

    顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件:分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此,在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

    更新時間:2024-11-09
    型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    廠商性質:代理商
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